Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Titel:Haftstellenspektroskopie mit DLTS an Defekten in Silicium
Person: Lefèvre, Helmut
Verfasser
aut
Hauptverfasser: Lefèvre, Helmut (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: 1981
Schlagwörter: