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Bibliographische Detailangaben
Titel:VLSI design and test
21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017 : revised selected papers
Von: Brajesh Kumar Kaushik, Sudeb Dasgupta, Virendra Singh (eds.)
Person: Kaushik, Brajesh Kumar
Dasgupta, Sudeb
Singh, Virendra
Weitere beteiligte Personen: Kaushik, Brajesh Kumar (HerausgeberIn), Dasgupta, Sudeb (HerausgeberIn), Singh, Virendra (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Singapore Springer [2017]
Schriftenreihe:Communications in Computer and Information Science 711
Schlagwörter:
Medienzugang:https://doi.org/10.1007/978-981-10-7470-7
https://doi.org/10.1007/978-981-10-7470-7
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Umfang:1 Online-Ressource (XXI, 815 Seiten, 486 illus)
ISBN:9789811074707
ISSN:1865-0929
DOI:10.1007/978-981-10-7470-7